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供应UX-720镀层厚度分析仪,镀层检测仪,镀层测试仪

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    x-720 精密镀层分析仪专用X射线荧光光谱仪是华唯公司经过3年研发,专门针对金属合金、铝型材、塑料等材料镀层分析、

达克罗涂覆层分析的普及机型,三重射线防护系统;人性化操作界面;华唯独创的VisualFp基本参数法分析软件,

可盲测(即:无需标准样品标定),即可对客户样品镀层膜厚测试、基材成分分析,降低客户购买标准样品(尤其是特殊样品)成本。

精心设计的开放式工作曲线功能,特别适用于工艺复杂材料的工厂镀层、涂层的制程控制。

联系人;13751019504胡小姐



产品指标:

测厚技术:X射线荧光测厚技术

测试样品种类:金属镀层,合金镀层

测量下限:0.003um

测量上限:30-50um(以材料元素判定)

测量层数:10层

测量用时:30-120秒

探测器类型:Si-PIN电制冷

探测器分辨率:145eV

高压范围:0-50Kv,50W

X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;

光管靶材:Mo靶;

滤光片:专用3种自动切换;

CCD观察:260万像素

微移动范围:XY15mm

输入电压:AC220V,50/60Hz

测试环境:非真空条件

数据通讯:USB2.0模式

准直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm

软件方法:FlexFP-Mult

工作区:开放工作区 自定义

样品腔:330×360×100mm

 
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